環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 
GB 10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 10588-89 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)務(wù)件 
GB 10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
GB 11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 總則 
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽輔射試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T 5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試設(shè)備 
GB 5170.13-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái) 
GB 5170.14-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) 
GB 5170.15-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái) 
GB 5170.16-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī) 
GB 5170.17-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 
GB 5170.18-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 
GB 5170.19-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備 
GB 5170.20-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備