微電機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中一項(xiàng)最重要的步驟。為了保證質(zhì)量，國(guó)外電機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)總是要求零配件供應(yīng)者對(duì)零配件做全面的檢驗(yàn)，這樣可以免去電機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)對(duì)零配件的評(píng)價(jià)，省錢(qián)又省力，而反過(guò)來(lái)零配件供應(yīng)廠(chǎng)也要求電機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)對(duì)其產(chǎn)品做出合適的評(píng)價(jià)，以便提供最合適的產(chǎn)品給電機(jī)裝配廠(chǎng)。 而最重要的是對(duì)產(chǎn)品的最終測(cè)試。對(duì)此，國(guó)外微電機(jī)行業(yè)現(xiàn)在基本上都采用計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。最著名的生產(chǎn)企業(yè)有美國(guó)的Magtrol公司，日本管源、橫河和國(guó)際計(jì)測(cè)器公司。Magtrol公司的HD系列磁滯測(cè)功機(jī)從18.N.m到最大為56N.m，共18個(gè)規(guī)格，其中56N.m測(cè)功機(jī)由4個(gè)14N.m制動(dòng)器串聯(lián)而成，價(jià)格要2～3萬(wàn)美元一臺(tái)。最近Magtrol公司開(kāi)發(fā)出最新的采用DSP的測(cè)功機(jī)系統(tǒng)，自動(dòng)加載速度不到10s，高速采樣，采樣過(guò)程自動(dòng)計(jì)算慣量。因?yàn)镈SP是高速采樣，并及時(shí)進(jìn)行慣性量補(bǔ)償，達(dá)到電機(jī)的高精度，高速自動(dòng)測(cè)試。在操作界面上由DOS界面，發(fā)展到Windows界面，有集中n=f（U、工、W、M、P、cosφ、η）的特性曲線(xiàn)，也有同時(shí)顯示n=f（U）、n=f（I）...n=f（η）等六個(gè)特性曲線(xiàn)的Windows界面。 另外，國(guó)外也有全虛擬儀器的電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，設(shè)有顯示儀，控制器和功率儀，用軟件代替大部分硬件，實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)全虛擬化測(cè)試。 現(xiàn)在，對(duì)于大多數(shù)產(chǎn)品，國(guó)外已采用100％試驗(yàn)， 在制造末了采用隨機(jī)抽樣試驗(yàn)已不允許。試驗(yàn)的范圍也不斷擴(kuò)大，除了性能試驗(yàn)外，還要進(jìn)行其他試驗(yàn)，如安全試驗(yàn)、噪音試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)等。因?yàn)橹T如機(jī)械損傷、齒輪缺陷、軸承振動(dòng)和磨損等，在電氣性能試驗(yàn)中不能被檢測(cè)出來(lái)，但它要產(chǎn)生噪聲。這里介紹一種由德國(guó)申克公司研制的利用參數(shù)認(rèn)定法進(jìn)行電機(jī)測(cè)試的新設(shè)備。 該參數(shù)認(rèn)定法的基本思想是通過(guò)建立數(shù)學(xué)模型，僅測(cè)量近似空載下（或電機(jī)軸上一慣性飛輪）的電流和電壓，從而獲得電機(jī)性能指標(biāo)；又通過(guò)磁頭和試驗(yàn)裝置聯(lián)接，測(cè)量振動(dòng)聲，用圖形識(shí)別法判斷電機(jī)噪聲。其基本原理是被測(cè)樣機(jī)，包括法蘭盤(pán)、電扇和齒輪，原則上由一個(gè)相應(yīng)的數(shù)字模型來(lái)描繪，模型系數(shù)直接反應(yīng)了樣機(jī)的物理參數(shù)，如繞線(xiàn)電阻和摩擦力矩，其他物理參數(shù)由數(shù)字模型間接確定。 該裝置是通過(guò)一個(gè)磁頭和被測(cè)試電機(jī)聯(lián)接，利用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的工業(yè)用加速度傳感器來(lái)測(cè)試電機(jī)噪聲。方法是噪聲數(shù)據(jù)由一個(gè)信號(hào)控制，可以用曲線(xiàn)表示。試驗(yàn)期間，將實(shí)測(cè)曲線(xiàn)與不同誤差等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)（標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)是噪聲質(zhì)量好的電機(jī)噪聲曲線(xiàn)）相比較，得出噪聲類(lèi)別，如無(wú)誤差、軸承噪聲、轉(zhuǎn)子摩擦噪聲、不平衡產(chǎn)生的噪聲等。 該設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可靠性高，檢測(cè)時(shí)間短，是一種全新的微電機(jī)檢測(cè)設(shè)備。